JESD22腐蝕測試_工業(yè)級驗證_第三方實驗室 參考價：面議
JESD22腐蝕測試_工業(yè)級驗證_第三方實驗室：重點針對易發(fā)生腐蝕的電阻、電容、磁珠、LED、IGBT、PCB、微波射頻陶瓷封裝焊料、裸芯片PAD等，及防護工藝...
晶體結(jié)構(gòu)與取向分析_微觀結(jié)構(gòu)表征_EBSD測試 參考價：面議
晶體結(jié)構(gòu)與取向分析_微觀結(jié)構(gòu)表征_EBSD測試：電子背散射衍射（EBSD） 是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）中實現(xiàn)的、用于分析材料近表面（10-50 nm）微觀...
IPC錫須測試_抗錫須評估_第三方檢測 參考價：面議
IPC錫須測試_抗錫須評估_第三方檢測：錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細長的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危...
高精度硅光測試_自動化測試系統(tǒng)_晶圓級測試 參考價：面議
高精度硅光測試_自動化測試系統(tǒng)_晶圓級測試：硅光芯片測試是確保硅光芯片性能和質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，廣電計量打造專業(yè)人才隊伍、構(gòu)建*的硅光芯片測試體系，助力硅光芯片光通...
快速無損檢測_X射線能譜分析_專業(yè)第三方 參考價：面議
快速無損檢測_X射線能譜分析_專業(yè)第三方：X射線光電子能譜(XPS)表面分析測試通過元素含量與價態(tài)對比，有效評估封裝基板表面工藝處理效果，并精準檢測器件表面污染...
電子元件耐腐蝕性|電化學(xué)腐蝕測試|壽命預(yù)測 參考價：面議
電子元件耐腐蝕性|電化學(xué)腐蝕測試|壽命預(yù)測：重點針對易發(fā)生腐蝕的電阻、電容、磁珠、LED、IGBT、PCB、微波射頻陶瓷封裝焊料、裸芯片PAD等，及防護工藝、防...
微觀晶體學(xué)表征_織構(gòu)與晶界分析_基于EBSD 參考價：面議
?微觀晶體學(xué)表征_織構(gòu)與晶界分析_基于EBSD：電子背散射衍射（EBSD） 是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）中實現(xiàn)的、用于分析材料近表面（10-50 nm）微觀...
SEM錫須檢測|錫須形貌觀察|成分分析 參考價：面議
SEM錫須檢測|錫須形貌觀察|成分分析：錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細長的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危...
光通信芯片測試|硅光子器件|可靠性驗證 參考價：面議
光通信芯片測試|硅光子器件|可靠性驗證：硅光芯片測試是確保硅光芯片性能和質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，廣電計量打造專業(yè)人才隊伍、構(gòu)建*的硅光芯片測試體系，助力硅光芯片光通信產(chǎn)...
材料表面分析|微區(qū)成分測試|X射線能譜 參考價：面議
材料表面分析|微區(qū)成分測試|X射線能譜：X射線光電子能譜(XPS)表面分析測試通過元素含量與價態(tài)對比，有效評估封裝基板表面工藝處理效果，并精準檢測器件表面污染情...
材料微觀結(jié)構(gòu)表征_EBSD測試_晶體取向分析 參考價：面議
材料微觀結(jié)構(gòu)表征_EBSD測試_晶體取向分析：電子背散射衍射（EBSD） 是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）中實現(xiàn)的、用于分析材料近表面（10-50 nm）微觀晶...
元器件腐蝕驗證-鹽霧測試-濕熱試驗 參考價：面議
元器件腐蝕驗證-鹽霧測試-濕熱試驗：重點針對易發(fā)生腐蝕的電阻、電容、磁珠、LED、IGBT、PCB、微波射頻陶瓷封裝焊料、裸芯片PAD等，及防護工藝、防護材料。...
錫須檢查-晶須生長-電子元器件可靠性 參考價：面議
錫須檢查-晶須生長-電子元器件可靠性：錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細長的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害...
硅光芯片測試-光電性能測試-耦合損耗測試 參考價：面議
硅光芯片測試-光電性能測試-耦合損耗測試：硅光芯片測試是確保硅光芯片性能和質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，廣電計量打造專業(yè)人才隊伍、構(gòu)建*的硅光芯片測試體系，助力硅光芯片光通信...
X射線能譜分析-能譜EDS-元素成分分析 參考價：面議
X射線能譜分析-能譜EDS-元素成分分析：X射線光電子能譜(XPS)表面分析測試通過元素含量與價態(tài)對比，有效評估封裝基板表面工藝處理效果，并精準檢測器件表面污染...
芯片失效分析檢測 參考價：面議
芯片失效分析檢測是判斷芯片失效性質(zhì)、分析失效原因、研究預(yù)防措施的技術(shù)工作。其目的在于提高芯片品質(zhì)，改善生產(chǎn)方案，從而保障產(chǎn)品品質(zhì)。
AEC-Q認證服務(wù) 參考價：面議
AEC-Q認證服務(wù)是專門針對汽車電子零部件設(shè)計的一系列質(zhì)量評估與可靠性測試服務(wù)。它旨在確保汽車電子部件能夠在各種復(fù)雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，為汽車的安全性和性能提...
車規(guī)電子元器件認證 參考價：面議
車規(guī)電子元器件認證是對用于汽車電子領(lǐng)域的元器件進行的一系列嚴格測試和認證，以確保它們能在汽車的各種復(fù)雜環(huán)境中穩(wěn)定、可靠地運行。
光電熱機械全參數(shù)測試 光電器件 參考價：面議
光電熱機械全參數(shù)測試 光電器件：廣電計量光、電、熱、機械全參數(shù)測試服務(wù)可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測試保障。
傳感器液體冷熱沖擊試驗 參考價：面議
傳感器液體冷熱沖擊試驗：液態(tài)冷熱沖擊試驗主要用于兩個裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗。冷熱沖擊試驗是評價散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強化試驗，為冷卻器的設(shè)計提供試驗...
光電子器件LED失效分析 參考價：面議
光電子器件LED失效分析：隨著LED應(yīng)用的飛速發(fā)展，其失效問題也隨之表現(xiàn)的尤為突出，特別是LED隨機性不點燈或性不點燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關(guān)鍵問...
光電器件 電磁繼電器電性能測試 參考價：面議
光電器件 電磁繼電器電性能測試：繼電器是一種自動控制開關(guān)，當其輸入端的物理量達到某一量值時，其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應(yīng)用于遙控、遙測、通訊、自動...
PCB PCBA金相切片試驗 光電器件測試 參考價：面議
PCB PCBA金相切片試驗 光電器件測試：金相切片是電子行業(yè)中常用的產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量評價方法。廣電計量擁有完整的切片分析測試設(shè)備，經(jīng)驗豐富的切片分析人才，能夠高效...
AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試 光電器件 參考價：面議
AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試 光電器件:AD/DA轉(zhuǎn)換器是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電路，主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號...
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